工作壽命試驗

工作壽命試驗(Operating Life Test): 在試驗過程中，加入電源(信號源)使IC進入工作狀態。在電壓、溫度、時間等加速因子(Acceleration Factor)的交互作用下，加速IC老化，預估IC在長時間可工作下的壽命時間(生命週期預估)。

典型浴缸曲線(Bathtub Curve)分成早夭期(Infant Mortality)、可使用期(Useful Life)及老化期(Wear out)。針對不同區段的故障率評估，與不同產品特性，皆有相對應的測試方法，如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRB(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) /IOL(Intermittent Operational Life Test)等試驗。